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测量芯片时，通常使用万用表的电阻档或电压档。在测量电阻时，选择合适的电阻档位，将万用表的两个探头分别接触芯片的两个引脚，读取电阻值。
在测量电压时，选择合适的电压档位，将万用表的一个探头接触芯片的一个引脚，另一个探头接地或其他参考点，读取电压值。根据具体情况，还可以选择其他档位，如电流档位等。但需要注意的是，使用万用表时要确保选择正确的档位，以避免对芯片造成损坏。
1.离线检测。 测出IC芯片各引脚对地之间的正、反电阻值,与好的IC芯片进行比较,找到故障点。
2.交流工作电压测试法。 用带有dB档的万能表,对IC进行交流电压近似值的测量。若没有dB档,则可在正表笔串入一只0.1至0.5微法隔离直流电容。该方法适于工作频率比较低的IC。 要注意这些信号将受固有频率、波形不同而不同,因此所测数据为近似值。
3.总电流测量法。 通过测IC电源的总电流,来判别IC的好坏。
测量芯片时，应选择万用表的电阻测量档（Ω）。
原因是芯片中包含多种电子元件，如电阻、电容和二极管等。电阻测量档可准确测量芯片中的电阻值，帮助判断电路连接情况、元件损坏等。其他档位可能导致不准确的测量或损坏芯片。注意：在测量前，确保芯片处于断电状态，以防止损坏芯片或造成误差。
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