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芯片测试socket测试开尔文是因为开尔文测试方法可以准确测量芯片的电阻值。
在芯片测试中，电阻是一个重要的参数，它决定了芯片的电流和电压特性。
开尔文测试方法通过使用四线制测量电阻，可以消除测试引线的电阻对测量结果的影响，提高测试的准确性。
开尔文测试方法是一种精确测量电阻的方法，它使用四根引线进行测量，其中两根引线用于传输电流，另外两根引线用于测量电压。
通过测量电流和电压的比值，可以得到芯片的电阻值。
相比于传统的两线制测试方法，开尔文测试方法可以消除测试引线的电阻对测量结果的影响，提高了测试的准确性。
在芯片测试中，准确的电阻值对于评估芯片的性能和可靠性非常重要，因此使用开尔文测试方法可以确保测试结果的准确性和可靠性。
在芯片测试中，socket 测试是为了确保芯片与 socket 之间的连接正确性和稳定性。开尔文测试是一种常用的测试方法，用于检测连接器接触不良或 socket 损坏的情况。
在测试中，开尔文测试可以模拟不同的使用条件，如在一定的温度和压力下进行测试，以检测连接器和 socket 的耐用性和稳定性。
通过开尔文测试，可以发现连接器和 socket 之间的潜在问题，并采取相应的措施来确保芯片测试的顺利进行。
因为通讯的时候是利用电信号进行传输，这样就可以加快传输速度，而且会进行无损传输，然后设备接收电信号后，需要解码才可以正确获得通信信号
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