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芯片测试全流程一般包括以下几个步骤:
样片测试、测试程序开发、量产准备、参数测试、特性测试、功能测试、烧录测试和报告准备等。
首先,进行样片测试,检查芯片工作原理和特性是否符合要求;
其次,开发测试程序,用于自动测试,以确保测试过程自动化;
紧接着,完成量产准备,备选相应的测试设备和测试程序;
之后,进行参数测试,确认芯片的参数是否符合要求;
接着,完成特性测试,验证芯片特性是否正确;
再之后,进行功能测试,确认芯片具备基本功能;
最后,完成烧录测试,确保芯片烧录完成,可靠性较高;
最后,准备测试报告,详细记录测试过程。
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